DIC Sistem

Seika Digital Image logosu

DIC (Digital Image Correlation) yöntemiyle, bir numunenin deformasyondan önce ve sonraki görüntüleri analiz edilerek hem deformasyon miktarı hem de yönü yüksek hassasiyetle ölçülür. Bu yöntem, tamamen temassız ve tahribatsız bir analiz sağlar.

Yüksek hızlı kameralar ile titreşim ve hızlı olaylar da analiz edilebilir.

Temel Bileşenler

  • Dijital Görüntü: Piksel tabanlıdır, her pikselin parlaklık değeri bit derinliğine göre sayısallaştırılır. Bu nedenle, çekim sırasında doğru çözünürlük ve bit ayarı büyük önem taşır.

  • Speckle Deseni: Yüzeye uygulanan rastgele noktacıklardan oluşur. Bu desen sayesinde deformasyon mikro düzeyde hassasiyetle ölçülebilir.

  • Subset (Alt Bölge): Görüntü, küçük alanlara ayrılır. Her alt bölge, deformasyonun takip edildiği bir ölçüm noktasıdır.

Öne Çıkan Özellikler

  • Koordinat, yer değiştirme, hız, şekil, deformasyon ve gerinim ölçümü

  • Vektör diyagramları & kontur haritaları

  • Yüksek hızlı ve yüksek çözünürlüklü kameralarla uyumlu

  • TIFF gibi yaygın görüntü formatlarını destekler

  • Kullanıcı dostu, sezgisel arayüz

  • Çevrimdışı analiz, isteğe bağlı çevrimiçi ve 3D analiz

  • Gelişmiş veri işleme: FFT, POD gibi analizler

Bir bilimsel veya mühendislik test cihazında eğrilmiş bir metal parça, renk skalası ve ölçüm göstergeleriyle gösteriliyor.
Quantization, sampling ve analog sinyallerin grafikleri, her biri farklı kırmızı renkli çizgilerle gösterilmiş.
Mavi, yeşil ve kırmızı renklerle gösterilen, çeşitli grafikler ve düzenleyicilerin bulunduğu bir bilgisayar ekranı. Üstteki grafik frekansları, alttaki grafik ise hız veya zaman tabanlı verileri gösteriyor. Sağda ise ayar ve seçenek menüsü bulunuyor.